Mikroskopyo: Pagkakaiba sa mga binago

Ang pinakaunang gamiting mikroskopyo ay nilikha sa [[Netherlands]] noong mga unang panahon ng dekada 1600. May kalituhan sa impormasyon hinggil sa lumikha (imbentor) at mga petsa ng pagkakaimbento ng mikroskopyo. Tatlong magkakaibang mga manlilikha ng mga salaming pang-mata ang nabigyan ng kapurihan sa pagkakalikha ng imbensyon: sina [[Hans Lippershey]] (na manlilikha rin ng pinakaunang tunay na [[teleskopyo]]), [[Hans Janssen]] at ang anak niyang lalaki na si [[Zacharias Janssen]].

 

Ang pinakapangkaraniwang mikroskopyo, at ang pinakaunang nalikha, ayang [[mikroskopyong optikal]]. Isa itong instrumentong optikal na naglalaman ng isa o maraming mga [[lente|salaming-lente]] na nakalilikha ng malaking imahen ng isang bagay na nalalagay sa [[tipunang-patigan]] (''focal plane'') ng mga lente. Subalit mayroon pang ibang mga disenyo ng mga mikroskopyo.

 

[[Talaksan:Microscope Zeiss 1879.jpg|thumb|left|200px|Isang mikoskopyong optiko (1879) ni [[Carl Zeiss Jena]].]]

[[Talaksan:Olympus SZIII stereo microscope.jpg|right|thumb|Karaniwang ginagamit ang mikroskopyong stereong ito para sa may mababang-lakas na pagpapalaki ng mga malalaking paksang-bagay o ispesimen.]]

'''A''' - Objective''' B''' - Galilean telescopes (''rotating objectives'')

'''C''' - Zoom control '''D''' - Internal objective '''E''' - Prism

 

 

Gumagamit ang [[mikroskopyong akostiko]] ng mga alon ng tunog upang masukat ang mga pagkakaiba-iba sa mga hadlang ng tunog. Katulad ng [[SONAR]], ginagamit ito para sa mga gawaing pang-tiktik at paghuli ng mga depekto (kasiraan at kakulangan) sa ilalim ng mga mukha ng mga kasangkapan na kinabibilangang ng mga natatagpuan sa mga pinagsanib na mga [[circuit|palibot-ruta]] (Ingles: mga ''[[pinagsanib na mga palibot-ruta|integrated circuit]]'' o mga integradong sirkit). <ref>[http://www.microscopyu.com Nikon MicroscopyU]</ref>

 

Ginagamit ang mga [[mikroskopyong inverso]] sa pagsusuri at pag-aaral ng lahat ng mga uri ng mga [[asero]] at [[aloy]]. Mainam ito sa pagbibigay ng antas sa kalidad ng mga hinugisang asero, sa pagsusuri ng mga hilaw na materyales, at maging sa kayariang pang-[[metalurhiya]] matapos maidarang sa init.

 

{{English|Microscope}}

{{reflist}}

 

{{commons|Microscope|Mikroskopyo}}

 

[[Kaurian:Mikroskopiya]]

[[nn:Mikroskop]]

[[no:Mikroskop]]

[[pl:Mikroskop]]

[[pt:Microscópio]]